11月11日上午，由江南大学党委研究生工作部、研究生院主办，集成电路学院承办的江南讲坛第一百四十五讲暨第十八期IC科技论坛在集成电路学院A116报告厅顺利召开。本次论坛特邀上海交通大学集成电路学院纪志罡教授担任主讲嘉宾。讲坛围绕“面向未来的集成电路可靠性：技术现状与未来方向”这一核心议题，展开了深入的学术探讨与交流。本次报告不仅吸引了学院逾百名师生参与，还汇聚了长三角集成电路创新中心、无锡科技职业学院和部分集成电路企业的专家学者，共话行业前沿技术。

纪志罡教授循着“历史—范式—实践—未来”的主线，系统阐述了集成电路可靠性技术的发展脉络、核心挑战与前沿突破。纪教授首先通过英特尔“Sandy Bridge”召回等真实产业案例，深刻揭示了在人工智能、自动驾驶等新兴领域需求的驱动下，芯片可靠性已成为决定产业成败的关键痛点。然后重点介绍了其团队在可靠性方法论上的范式转变，即从传统的“逆向防御”模式转向主动的、贯穿设计与工艺全流程的“可靠性感知的DTCO”。最后，针对车规级芯片“零失效”的严苛要求和传统可靠性筛选技术的局限性，纪教授分享了其团队在“AI加持的可靠性筛选”方面的突破性实践。

在互动交流环节，与会师生踊跃提问，围绕可靠性模型的工艺适配性、AI算法在失效分析中的具体应用以及车规芯片的测试挑战等问题与纪教授展开了热烈讨论。本次报告不仅为在场师生带来了集成电路可靠性领域的学术前沿动态，更在研究范式、技术路径和产学研结合等方面提供了宝贵的思路与启示。

论坛现场

纪志罡教授担任主讲嘉宾

互动交流（一）

互动交流（二）

参会师生